GIS試驗(yàn)包括主回路電阻測(cè)量、元件試驗(yàn)及連鎖試驗(yàn)、絕緣試驗(yàn)以及SF6氣體檢測(cè)試驗(yàn)等。

      GIS是多元件的組合電器，在完成設(shè)備組裝和導(dǎo)體連接后，一般在抽真空充SF6氣體之前進(jìn)行主回路電阻測(cè)量，以判斷安裝質(zhì)量。測(cè)得的主回路電阻值不應(yīng)超過(guò)產(chǎn)品技術(shù)條件規(guī)定的1.2倍，否則認(rèn)為接觸**需進(jìn)行處理。

       因?yàn)镚IS額定電流大，導(dǎo)體截面積大，用電橋測(cè)量一般不易發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，所以按DL596-1996《電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》的規(guī)定應(yīng)采用直流壓降法測(cè)量，測(cè)試電流不小于100A或按照廠家規(guī)定。這樣即準(zhǔn)確又易發(fā)現(xiàn)接觸**的問(wèn)題。

       若GIS有進(jìn)出線套管，可利用進(jìn)出線套管注入測(cè)量電流進(jìn)行測(cè)量

        若GIS接地開(kāi)關(guān)導(dǎo)電桿與外殼絕緣，引到金屬外殼的外部以后再接地，測(cè)量時(shí)可將活動(dòng)接地片打開(kāi)，利用回路上的兩組接地開(kāi)關(guān)導(dǎo)電桿關(guān)合到測(cè)量回路上進(jìn)行測(cè)量；若接地開(kāi)關(guān)導(dǎo)電桿與外殼不能絕緣分隔時(shí)，可先測(cè)量導(dǎo)體與外殼的并聯(lián)電阻R0和外殼的直流電阻R1，然后按以下公式換算回路電阻R       R＝(R0R1)／(R1－R0)基于直流壓降法時(shí)，可采用直流電源、分流器和毫伏表測(cè)量回路電阻，也可采用KDHL-100回路電阻測(cè)試儀來(lái)進(jìn)行測(cè)量。二者基本原理一致，測(cè)量時(shí)應(yīng)注意接線方式帶來(lái)的誤差，KDHL-100回路電阻測(cè)試儀電壓測(cè)量線應(yīng)在電流輸出線的內(nèi)側(cè)，KDHL-100回路電阻測(cè)試儀電壓測(cè)量線應(yīng)接在主回路正確的位置，否則將產(chǎn)生較大的測(cè)量誤差。

       在GIS母線較長(zhǎng)、間隔較多，并且有多路進(jìn)出線的情況下，應(yīng)盡可能分段測(cè)量，以便有效地找到缺陷的部位。

        現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的數(shù)據(jù)應(yīng)與出廠試驗(yàn)數(shù)據(jù)比較，當(dāng)被測(cè)回路各相長(zhǎng)度相同時(shí)，測(cè)得的各相數(shù)據(jù)應(yīng)相同或接近。

        例如，圖1-1所示測(cè)量GIS的主回路電阻時(shí)，可以首先測(cè)量A1-A2之間的電阻，若三相測(cè)量數(shù)據(jù)與出廠數(shù)據(jù)差別較大或三相數(shù)據(jù)差別較大，應(yīng)對(duì)測(cè)量回路分段，以找到有安裝缺陷的部件。如從B、C兩點(diǎn)通電測(cè)量，可以判斷斷路器QFl的接觸情況；從D、E兩點(diǎn)通電測(cè)量回路電阻，可以準(zhǔn)確判斷斷路器QF2的接觸情況。